產品名稱：LJD型絕緣紙介電常數介質損耗測試儀

產品型號：LJD-B、LJD-C、QS-37

符合標準：GB/T1409、GB/T5594

產品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數及介質損耗測試

適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等

測試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ

主要配置：主機Q表、夾具、電感組成

測試項目：介電常數、介質損耗、介質損耗因數、介質損耗角正切值

使用人群：科研所、教學、質量監督局、軍工單位等

付款方式：全款發貨

產品品牌：縱橫金鼎

產品貨期：1-3個工作日

產品類別：電性能檢測儀器

一、LJD型絕緣紙介電常數介質損耗測試儀概述：

LJD-C型介電常數介質損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項技術：

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。

計算機自動修正技術和測試回路優化 —使測試回路 殘余電感減至 ，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

LJD-C介電常數介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

二、主要技術特性：

Q 值測量范圍:       2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔

固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差:≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍:       4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍:   1 ～ 200pF

主電容調節范圍:     18 ～ 220pF

主電容調節準確度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

頻率指示誤差        :3 × 10 -5 ± 1 個字

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選

極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套

一、概述

LJD-B/LJD-C介電常數測試儀主要區別

    LJD-B/LJD-C介電常數測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數和介質損耗因數，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。

LJD-B/LJD-C介電常數測試儀是北京縱橫金鼎儀器設備有限公司新研制的產品，它以DDS數字直接合成方式產生信號源，頻率達

70MHz/160MHz，信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩定的優點，更保證了測量精度的精確性。LJD-B主電容調節用傳感器感應，電容讀數精確,且頻率值可設置。LJD-C主電容調節用步進馬達控制，電容讀數更加精確,頻率值和電容值均可設置。LJD-B/LJD-C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數字顯示，在某一頻率下，只要能找到諧振點，都能直接讀出電感、電容值，大大擴展了電感和電容的測量范圍，而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。LJD-B/LJD-C*的諧振點頻率自動搜索或LJD-C*的電容自動搜索功能，能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點，自動讀出Q值和其它參數。Q值量程可手動或自動轉換。

ASTM D150-11

實心電絕緣材料的交流損耗特性和

電容率（介電常數）的標準試驗方法¹

本標準是以固定代號D150發布的。其后的數字表示原文本正式通過的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數字為上一次重新確認的年號。上標符號（ε）表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。
　　　　本標準經批準用于國防部所有機構。
1.介電常數測試儀范圍
1.1 本試驗方法包含當所用標準為集成阻抗時，實心電絕緣材料樣本的相對電容率，耗散因子，損耗指數，功率因子，相位角和損耗角的測定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。

注1：在普遍的用法，“相對”一詞經常是指下降值。

1.2 這些試驗方法提供了各種電極，裝置和測量技術的通用信息。讀者如對某一特定材料相關的議題感興趣的話，必須查閱ASTM標準或直接適用于被測試材料的其它文件。^2,3

1.3　　本標準并沒有*列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據實際使用情況進行斟酌。使用本規范前，使用者有責任制定符合安全和健康要求的條例和規范，并明確該規范的使用范圍。特殊危險說明見7.2.6.1和10.2.1。

¹　本規范歸屬于電學和電子絕緣材料ASTM D09委員會管轄，并由電學試驗D09.12附屬委員分會直接管理。

當前版本核準于2011年8月1日。2011年8月發行。原版本在1922年批準。前一較新版本于2004年批準，即為　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。

²　R. Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測量,” 工程電介質, Vol. IIB, 實心絕緣材料的電學性能, 測量技術, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

³　R. Bartnikas, 第1章, “固體電介質損耗,” 工程電介質,Vol IIA, 實心絕緣材料的電學性能: 分子結構和電學行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

2.介電常數測試儀引用文件
2.1 ASTM標準：⁴

D374 　　　　固體電絕緣材料厚度的標準試驗方法

D618 　　　　試驗用塑料調節規程

D1082 　　　云母耗散因子和電容率（介電常數）試驗方法

D1531 　　　用液體位移法測定相對電容率（介電常數）與耗散因子的試驗方法

D1711 　　　電絕緣相關術語

D5032 　　　用飽和甘油溶液方式維持恒定相對濕度的規程

E104 　　　　用水溶液保持相對恒定濕度的標準實施規程

E197 　　　　室溫之上和之下試驗用罩殼和服役元件規程（1981年取消）⁵

3.介電常數測試儀術語

3.1 定義：

3.1.1 這些試驗方法所用術語定義以及電絕緣材料相關術語定義見術語標準D1711。

3.2 本標準術語定義：

3.2.1 電容，C，名詞——當導體之間存在電勢差時，導體和電介質系統允許儲存電分離電荷的性能。

3.2.1.1 討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當電量采用庫倫為單位，電位采用伏特為單位時，電容單位為法拉，即：

C=q/V 　　　　　　　　　　（1）

3.2.2 耗散因子（D），（損耗角正切），（tanδ），名詞——是指損耗指數（K''）與相對電容率（K'）之間的比值，它還等于其損耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（見圖1和圖2）。

D=K''/K' 　　　　(2)

⁴　相關ASTM標準，可瀏覽ASTM網站，.astm.org或與ASTM客服service@astm.org聯系。ASTM標準手冊卷次信息，可參見ASTM網站標準文件匯總。

⁵　該歷史標準的較后批準版本參考網站astm.org。

3.2.2.1 討論——a：

D=tanδ=cotθ=X_p/R_p=G/ωC_p=1/ωC_pR_p　　　　　　　　(3)

式中：

G=等效交流電導，

X_p=并聯電抗，

R_p=等效交流并聯電阻，

C_p=并聯電容，

ω=2πf（假設為正弦波形狀）

耗散因子的倒數為品質因子Q，有時成為儲能因子。對于串聯和并聯模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：

D=ωR_sC_s=1/ωR_pC_p　　　　　　　　(4)

串聯和并聯部分之間的關系滿足以下要求：

C_p=C_s/(1 D²) 　　　　　　　　　　　　(5)

R_p/R_s=(1 D²)/D²=1 (1/D²)=1 Q²　　　　　　　　　　　　　(6)

4、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入AS2853A)，實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數據的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算*的。

三、主要技術特性及配置

主要配置